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【课件】X射线光电子能谱分析方法及原理(XPS)
来源:sctc2007_g 资料
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岛津XPS技术表征石墨烯薄膜的厚度
来源:岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司 相关产品:岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+ 应用
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XRD与XPS区别
来源:longhai 资料
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浅谈XPS的测试与数据分析
该课件主要内容:XPS原理简介,应用,如何分析实验结果,常用的软件等。 适用于刚开始接触XPS分析方法的人。
来源:lisa2002 资料
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磁控溅射类石墨镀层结构的Raman 光谱和XPS 分析
来源:L120623 资料
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蓝宝石比热表90K-1650K
一个90K-1650K的Sapphire的Cp表,也是常压下的。
来源:lucky 资料
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竹木质素的红外光谱与X射线光电子能谱分析
来源:L120623 资料
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蛋白质微胶囊包覆RDX 工艺参数研究
来源:LFW369369 资料
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利用XPS和二次离子质谱仪(SIMS)进行材料表面表征
来源:amelican_beauty 资料
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光电子能谱和飞行时间质谱联用技术
来源:bluedays 资料
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